技术资讯

Contact | 联系我们

  • 公司:重庆阿泰可环境可靠性检测技术有限公司          贵州阿泰可检测技术有限公司
  • 电话:133-8966-0065 
  •         023-65957985 (重庆
  •         0851-83835405(贵州) 
  • 网址:www.atecjc.com
  • 邮箱:jc@cqatec.com
  • 地址 : 重庆市渝北区空港工业园9号地
  •          贵州省贵阳市经济开发区贵惠大道珠显村359号 
当前位置 > 首页 > 技术资讯 > 技术资讯

低气压试验基础知识(3)

发布时间:2017/10/12 14:55:18   发布人:管理员


2、实验室环境
美国军方针对高原环境下的医学研究,USARIEM(The United States Army Research Institute of Environmental Medicine ,USARIEM美国军方环境医学研究所)建有一个大型(6.3×3.0 m)和一个小型低压舱(3.7×2.7 m),通过气阀相连接,可以模拟及控制压力(从海平面到海拔9000米的气压)、温度(-32 到43摄氏度)及对应的湿度。

国内目前主要是通过低气压(或高低温-低气压,或高低温-低气压-湿度)试验箱模拟相应环境来实现。

五、低气压试验的目的
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法105 低气压试验 (等效美军标MIL-STD-202F )
1目的:确定元件和材料在低气压下耐电击穿能力;确定密封元件耐受气压差不破坏的能力;检验低气压对元件工作特性的影响及低气压下的其他效应;有时候可用于确定机电元件的耐久性。
本方法是常温条件下的低气压试验。若装置元件的设备将在低温低气压及高温低气压的综合条件下贮存和使用,而且能够断定高低温和气压的综合作用是造成失效的主要原因,常温低气压试验不能使用时,则应进行温度-气压综合环境试验。
六、低气压相关试验标准
1)GJB 150.2A-2009 《军用装备实验室环境试验方法 第二部分 低气压(高度)试验》
2)GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法 方法105低气压试验》(等效美军标MIL-STD-202F )
3)GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序 方法1001 低气压(高空作业)》(等效美军标MIL-STD-883D)
4)GB/T 2421-2008《电工电子产品基本环境试验 总则》
5)GB/T 2423.21-2008《电工电子产品基本环境试验规程 试验M低气压试验方法》
6)GB/T 2423.25-2008《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM 低温/低气压综合试验方法》
7)GB/T 2423.26-2008《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM 高温/低气压综合试验方法》
8)GB/T 2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD 高温/低气压综合试验访求》
9)GB/T 2424.15-2008《电工电子产品基本环境试验规程》
10)MIL-STD-810F 《环境工程考虑与实验室试验 低气压(高度)试验》
11)温度、压力、高度关系GB1920
12)IEC 60068-2-41(1976)《基本环境试验规程 第二部分 试验 试验Z/BM 高温/低气压试验》

七、试验条件:
1、试验气压
GJB 150不适用于飞行高度超过30 000m的航天器、飞机或导弹上的装备,而GJB 360中给出了4 572~200 000m不同高度下对应的低气压值,GJB 548也给出了4 572~200 000m不同高度下对应的低气压值。对比GJB 360与GJB 548的低气压-高度表,GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7个不同条件下的高度气压值,并且所给出的试验条件有一定的规律性,随着飞行高度由低到高,气压值由大变小;GJB 360给出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10个不同条件下的高度气压值,并且所列的高度-气压表中的试验条件由A到试验条件E有一定的规律性,随着飞行高度由低到高,气压值由大变小,而由试验条件F到试验条件J没有呈现规律性。与GJB 548所列的试验条件对比,GJB 360 试验条件增加了条件H到试验条件J,对应的气压高度条件分别为:H:3 000m 70kPa;J:18 000m,7.6kPa;K:25 000m, 2.5 kPa 。

2、试验时间
GJB 360B-2009规定:
若无其他规定,试验样品在低气压条件下的试验时间,可从下列数值中选取:
5min、30min、1h、2h、4h和16h。
3、升降压速率
通常不大于10kPa/min。